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掃描電鏡操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡(SEM)平臺適用于日常檢測與研究應(yīng)用，高可用性：EVO配備的兩種用戶界面(SmartSEMTouch和SmartSEM)可滿足不同用戶的需求。SmartSEMTouch采用觸摸屏設(shè)計，只需指尖輕觸便能輕松控制交互式工作流程。操作簡單易上手，大大減少了培訓的工作量及成本。即便是新手用戶，也能在幾分鐘內(nèi)采集到出色的圖像。

掃描電子顯微鏡SEM 具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

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卡爾蔡司電子顯微鏡SEM，將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

掃描電子顯微鏡SEM 借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設(shè)計。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

掃描電子顯微鏡SEM 蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實驗室，您都可以在一臺設(shè)備上實現(xiàn)多用戶同時操作。得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺設(shè)計理念，您可以根據(jù)自己需求的變化隨時升級儀器系統(tǒng)。在加工、成像或是實現(xiàn)三維重構(gòu)分析時，Crosssbeam系列都將

掃描電子顯微鏡SEM 　EVO18 Research 是學術(shù)和研究機構(gòu)使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO 18 Research 為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)，具有處理多種材料的能力。結(jié)合SmartSEM 軟件的易用性，使其成為多種研究應(yīng)用的合適之選，范圍涵蓋半導體和電子技術(shù)、地質(zhì)科學及材料研究。