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簡(jiǎn)要描述:掃描電子顯微鏡SEM借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運(yùn)用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今,您能夠以納米分辨率對(duì)厘米級(jí)樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時(shí)的連續(xù)、可靠運(yùn)行而設(shè)計(jì)。只需簡(jiǎn)單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程,MultiSEM 便能夠獨(dú)立地自動(dòng)完成高襯度圖像采集。
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品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時(shí)代
借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運(yùn)用 91 條并行電子束的采集速度?,F(xiàn)如今,您能夠以納米分辨率對(duì)厘米級(jí)樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時(shí)的連續(xù)、可靠運(yùn)行而設(shè)計(jì)。只需簡(jiǎn)單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程,MultiSEM 便能夠獨(dú)立地自動(dòng)完成高襯度圖像采集。
使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM:您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項(xiàng)。
以速度和納米分辨率采集圖像
91 條電子束同時(shí)工作,擁有出色的成像速度。
在幾分鐘內(nèi)對(duì)1 mm2的區(qū)域成像,分辨率高達(dá) 4 nm。
借助經(jīng)優(yōu)化的二次電子探測(cè)器,以低信噪比采集高襯度圖像。
大型樣品的采集和成像
MultiSEM 配備有一個(gè)可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。
對(duì)整個(gè)樣品成像并發(fā)現(xiàn)所有細(xì)節(jié),助力于科研。
自動(dòng)采集方案可實(shí)現(xiàn)大面積成像 - 您將獲得精細(xì)的納米圖像,且不丟失可見信息。
ZEN 成像軟件
使用成熟的ZEN軟件簡(jiǎn)便直觀地操控 MultiSEM,該軟件被應(yīng)用于所有蔡司成像系統(tǒng)
智能化自動(dòng)調(diào)節(jié)程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像
根據(jù)樣品的實(shí)際情況,快速輕松地創(chuàng)建復(fù)雜的自動(dòng)采集流程
MultiSEM的ZEN 軟件可高速進(jìn)行連續(xù)并行成像
開放的API軟件接口可提供靈活快速的應(yīng)用開發(fā)
對(duì)大體積樣品連續(xù)切片斷層掃描的數(shù)據(jù)獲取
使用ATUMtome 自動(dòng)切割樹脂包埋生物組織。 一天內(nèi)搜集多達(dá)1000個(gè)連續(xù)切片。
將切片用膠帶固定在硅晶片上并用蔡司的光學(xué)顯微鏡成像。使用蔡司的 ZEN 成像軟件以及 Shuttle & Find 功能組件對(duì)整體成像。再將硅晶片移至 MultiSEM 電子顯微鏡下,對(duì)樣品進(jìn)行整體預(yù)覽并利用 ZEN 軟件用戶界面規(guī)劃整個(gè)實(shí)驗(yàn)。
用圖形化的控制中心設(shè)置整個(gè)實(shí)驗(yàn)。高效的自動(dòng)切片檢測(cè)可以識(shí)別和標(biāo)注感興趣區(qū)域,節(jié)省大量時(shí)間。
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